Thiết bị kiểm tra tự động (ATE)

Tác Giả: Laura McKinney
Ngày Sáng TạO: 2 Tháng Tư 2021
CậP NhậT Ngày Tháng: 1 Tháng BảY 2024
Anonim
Digitaltest - ATE Testsystems
Băng Hình: Digitaltest - ATE Testsystems

NộI Dung

Định nghĩa - Thiết bị kiểm tra tự động (ATE) có nghĩa là gì?

Thiết bị kiểm tra tự động (ATE) là một máy được thiết kế để thực hiện các thử nghiệm trên các thiết bị khác nhau được gọi là thiết bị được thử nghiệm (DUT). Một ATE sử dụng các hệ thống điều khiển và công nghệ thông tin tự động để thực hiện nhanh chóng các bài kiểm tra đo lường và đánh giá DUT.

Các xét nghiệm ATE có thể vừa đơn giản vừa phức tạp tùy thuộc vào thiết bị được thử nghiệm. Thử nghiệm ATE được sử dụng trong giao tiếp không dây và radar cũng như sản xuất linh kiện điện tử. Ngoài ra còn có ATE bán dẫn chuyên dụng để thử nghiệm các thiết bị bán dẫn.

Thiết bị kiểm tra tự động còn được gọi là thiết bị kiểm tra tự động.


Giới thiệu về Microsoft Azure và Microsoft Cloud | Trong suốt hướng dẫn này, bạn sẽ tìm hiểu về điện toán đám mây là gì và Microsoft Azure có thể giúp bạn di chuyển và điều hành doanh nghiệp của bạn từ đám mây như thế nào.

Techopedia giải thích Thiết bị kiểm tra tự động (ATE)

Thiết bị kiểm tra tự động là một máy vận hành bằng máy tính được sử dụng để kiểm tra các thiết bị về hiệu suất và khả năng. Một thiết bị đang được thử nghiệm được gọi là thiết bị được thử nghiệm (DUT). ATE có thể bao gồm thử nghiệm cho thiết bị điện tử, phần cứng, phần mềm, chất bán dẫn hoặc hệ thống điện tử hàng không.

Có những ATE không biến chứng như máy đo volt-ohm đo điện trở và điện áp trong PC. Ngoài ra còn có các hệ thống ATE phức tạp có một số cơ chế thử nghiệm tự động chạy chẩn đoán điện tử cấp cao như thử nghiệm wafer để chế tạo thiết bị bán dẫn hoặc cho các mạch tích hợp. Hầu hết các hệ thống ATE công nghệ cao sử dụng tự động hóa để thực hiện kiểm tra nhanh chóng.

Mục tiêu của ATE là nhanh chóng xác nhận xem DUT có hoạt động hay không và tìm ra khuyết điểm. Phương pháp thử nghiệm này giúp tiết kiệm chi phí sản xuất và giúp ngăn chặn một thiết bị bị lỗi xâm nhập thị trường. Vì ATE được sử dụng trong một loạt các DUT, mỗi thử nghiệm có một quy trình khác nhau. Một thực tế trong tất cả các thử nghiệm là khi phát hiện ra giá trị vượt quá dung sai đầu tiên, thử nghiệm dừng lại và DUT không đánh giá được.